豪威半导体申请芯片数据检查方法专利，确保出货芯片都是多道测试的电性能和图像良品，降低客诉风险

金融界2025年5月8日消息，国家知识产权局信息显示，豪威半导体（上海）有限责任公司申请一项名为“芯片数据检查方法”的专利，公开号CN119926829A，申请日期为2025年1月。

专利摘要显示，本发明提供一种芯片数据检查方法，包括：将待测芯片依次经第一测试站点至第N测试站点进行测试；将待测芯片在各测试站点的测试记录和测试数据均上传至服务器；服务器与MES系统交互通信连接；根据MES系统记录的物料测试程式和测试机，自动获取服务器的数据；通过待测芯片的测试数量记录和测试数据对比，确保测试数据的完整性；对比多个测试站点的一次性密码、身份信息以及批次识别码的唯一性信息，如果存在差异，通过MES系统管控待测芯片。本发明通过测试记录和测试数据对比分析，并通过MES进行物料管控，确保芯片数据的完整性和可靠性；确保出货芯片都是多道测试的电性能和图像良品，降低客诉风险,进而增强产品的信赖性。

天眼查资料显示，豪威半导体（上海）有限责任公司，成立于2001年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本38300万美元。通过天眼查大数据分析，豪威半导体（上海）有限责任公司参与招投标项目39次，专利信息88条，此外企业还拥有行政许可120个。

本文源自：金融界

作者：情报员